ML17301A022: Difference between revisions

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| number = ML17301A022
| issue date = 03/02/1983
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RKGULIR1~ INFORHA'TIDE, DilSTRIBUT ION                                  (STKiH    (RIDS)
ACCESSION NBR>>8303080126                                  DOC>>.DATE ~  8'5/03/02      NO,TIARIZKD~      NO            DOCKK>>T>>
FACILI:50 389 St..          LL>>cii e Pil>>aht>>E Uni t 2i              F>>lor,i de  Po.>>R>>sr: L    Liight Coi.,                  tI'5000389 AUTH ~ NAHKI                  AUTHOR. AFF>>ILIIAT'ION UHRI 6 0 R. KL              Fil oir.i dat P>>oiaeeL Lli aht>> C'oi..
RECAP'. IVAHE>>                RKCIIPIKIVTI AFF ILIIAJIO>>V E>>ISKNHUTI.O.GI.,            Oli Vi Si On Oifi Lli CenSina SUBJEC>>T:      Former ds. "Reactor: Cbptainment Bl )a Integer a'ted Leakag                                      Ra  e Test,": f In>>i>>i r eotsoer Ren J renu free>>et>>.,
DISTRISUTION CDOEI>> 00010 CDisIES RECEIVED:LITR I! ""NCLI                                            tI  SIZE.:
TITLE'! Lli cans i na Suomi t ta'1>>'. PSAR/FSAR Amdt s Il Rei e W                                      . soondenc    e NOTES:
COP>>IKS              RKCIIP IKN TI                COP IKS
                                                                                          '1 R KC,IP>>I KN>>TI I0  COOEII N AIHEI                      LIT TR. EiVCLI      IO>> GODET/NAHEl              LTTR KNCLI A/0 LIICKNSVGI                                1. 0      LIICI BR 03 BCI                  1      0, LIIC= BRI  II>>3  LIR>>                        1. 0      NERSES  ~ V~                    1      1 INTKRiVALI: ELD/HOS2.,                                        1      0      IKI F>>ILKI                        1      1 IK'/DEPi KPOS          36>>                    1. 1      IK/DKP/EPLB>> 36                  3      3.
NRR/DK I AEIAB>>                                1>>    0      IVRR/DE'/CKS>>        11          1      1 IVRR/DK>>/KQBI          13                    2. 2      NRR/DE'/GB>>          28"        2      2 IVRR/D>>E>>/HGKB>>        30                    1. 1          I VRR DE'/HES>>          18"                1 iVRR/DK'IHTKB            1,7>>                  1>>    1      NRR/DE'/QAB          21.        1    1 NRR/D.='I SABI.                                1. 1      iVRR/DK'/SES'5>>                  1    1 24'RR/D)F8/HFKB4'0 ir    1      >>VRR/OHFS/LGB 32                1      1
              >>VRR/OLv'SSPB>>                                1. 0      NRRJOSI/AEBI 26                  1      1 NRR/OSIJASB                                    1      1      NRR/DS I/CPB>> 10                  1    1 INRR/DSil J CSB>>        09                    1. 1      NR R /OS I / I CiS BI 1 6        1      1 I
NRR/DSil HKITB 12                              1,    1      NRR/DSI/PSB>>          1.9        1      1 72                    1      1      IVRR /OS I /RSB>>      23        1      1 I                04'                    1      1      RG>>V2                            3      3 H/ DD R HII I HII 3>>                        1. 0 EXTERNAL(: ACRS                        4'1                    6      6      BNLI( AMDTS>> 0>>VLII')
OHB/DSS      (AIHOIT8)                              1      FKIHA RKP'IIVI        39 I POR                  03                    1            NRCI POR.            02 NSI CI                  05>>                    1. 1      NTIS TOTALI NUHBER OFi COP>>IKS RKQJIRKO: LITTR                                  52    ENCLI
 
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P  BOX 14000, JUNO BEACH, FL 3340B o          Q g
FLORIDA POWER & LIGHT COMPANY 11arch 2, 1983 L-83-116 Office of Nuclear Reactor Regulations Attention: Hr. Darrell G. Eisenhut Division of Licensing U. S. Nuclear Regulatory Commission Washington, D.C. 20055 Dear Hr. Eisenhut Re:    St. Lucie Unit No. 2 Docket No. 50-389 Reactor Containment Building
        , Inte rated Leak Rate Test (ILRT)
In accordance with the requirements of 10CFR Part 50, Appendix J, Florida Power &    Light herewith submits the St. Lucie Unit 2 reactor containment building integrated leak rate test report.
If you    have any questions    regarding this submittal, please contact us.
Very  truly yours, Robert E. Uhrig Vice President Advanced Systems    &  Technology REU/RJS/JES/njb Attachment cc:    J.P. O'Reilly, Region    II Harold F. Reis, Esquire
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